多層瓷介電容器(MLCC)，簡(jiǎn)稱片式電容器，是由印好電極(內(nèi)電極)的陶瓷介質(zhì)膜片以錯(cuò)位的方式疊合起來(lái)，經(jīng)過(guò)一次性高溫?zé)Y(jié)形成陶瓷芯片，再在芯片的兩端封上金屬層(外電極)，從而形成一個(gè)類似獨(dú)石的結(jié)構(gòu)體，故也叫獨(dú)石電容器。雖然MLCC功能簡(jiǎn)單，但是由于廣泛應(yīng)用于智能手機(jī)等電子產(chǎn)品中，一旦失效會(huì)導(dǎo)致電路失靈，功能不正常，甚至導(dǎo)致產(chǎn)品燃燒，爆炸等安全問(wèn)題，其失效模式不得不受到品質(zhì)檢測(cè)等相關(guān)工程師的關(guān)注。
而在多種失效模式中，電容漏電(低絕緣阻抗)是最常見的失效類型，其主要原因可分為制造過(guò)程中的內(nèi)在因素及生產(chǎn)過(guò)程中的外界因素。
1.內(nèi)在因素
1.1空洞(Void)
電容內(nèi)部異物在燒結(jié)過(guò)程中揮發(fā)掉形成的空洞。空洞會(huì)導(dǎo)致電極間的短路及潛在電氣失效，空洞較大的話不僅降低IR，還會(huì)降低有效容值。當(dāng)上電時(shí)，有可能因?yàn)槁╇妼?dǎo)致空洞局部發(fā)熱，降低陶瓷介質(zhì)的絕緣性能，加劇漏電，從而發(fā)生開裂，爆炸，燃燒等現(xiàn)象。
空洞現(xiàn)象
1.2燒結(jié)裂紋(Crack)
燒結(jié)裂紋一般緣于燒結(jié)過(guò)程中快速冷卻，在電極邊垂直方向上出現(xiàn)。
燒結(jié)裂紋
1.3分層(Delamination)
分層的產(chǎn)生往往是在堆疊之后，因?qū)訅翰涣蓟蚺拍z、燒結(jié)不充分導(dǎo)致，在層與層間混入了空氣，外界雜質(zhì)而出現(xiàn)鋸齒狀橫向開裂。也有可能是不同材料混合后熱膨脹不匹配導(dǎo)致。
分層
2.外界因素
2.1熱沖擊
熱沖擊主要發(fā)生在波峰焊時(shí)，溫度急劇變化，導(dǎo)致電容內(nèi)部電極間出現(xiàn)裂縫，一般需要通過(guò)測(cè)量發(fā)現(xiàn)，研磨后觀察，通常是較小的裂縫，需要借助放大鏡確認(rèn)，少數(shù)情況下會(huì)出現(xiàn)肉眼可見的裂縫。
熱沖擊
這種情況下建議使用回流焊，或者減緩波峰焊時(shí)的溫度變化(不超過(guò)4~5℃/s)，在清洗面板前控制溫度在60℃以下。
2.2外界機(jī)械應(yīng)力
因?yàn)镸LCC主要成分是陶瓷，在放置元件，分板，上螺絲等工序中，很可能因?yàn)闄C(jī)械應(yīng)力過(guò)大導(dǎo)致電容受擠壓破裂，從而導(dǎo)致潛在的漏電失效。此時(shí)的裂縫一般呈斜線，從端子與陶瓷體的結(jié)合處開裂。
外界機(jī)械應(yīng)力
2.3焊錫遷移
高濕環(huán)境下進(jìn)行焊接有可能導(dǎo)致電容兩端焊錫遷移，連接到一起導(dǎo)致漏電短路。
電話：18923864027（同微信）
QQ：709211280
〈烜芯微/XXW〉專業(yè)制造二極管，三極管，MOS管，橋堆等，20年，工廠直銷省20%，上萬(wàn)家電路電器生產(chǎn)企業(yè)選用，專業(yè)的工程師幫您穩(wěn)定好每一批產(chǎn)品，如果您有遇到什么需要幫助解決的,可以直接聯(lián)系下方的聯(lián)系號(hào)碼或加QQ/微信，由我們的銷售經(jīng)理給您精準(zhǔn)的報(bào)價(jià)以及產(chǎn)品介紹